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Dielectric properties of flash - evapored CuInSe2 photovoltaic thin films

M. Abdelali1, R. Zair2, T. Belal3 and C. Llinares4

1 Université Saad Dahlab, B.P. 270, Route de Soumaa, Blida, Algérie 2 Unité de Développement de la Technologie du Silicium, 2 Bd Frantz Fanon, Alger, Algérie 3 Ecole Normale Supérieure, Vieux Kouba, Alger, Algérie 4 CEM2, Université de Montpellier 2, France

Abstract

this paper, we have analyzed the dielectric functions of CuInSe2 photovoltaic thin films, 2 1 ie + e = e .Thus we have obtained the dispersion spectra corresponding to ( ) ? e1 and ( ) ? e2 from spectrophotometry measurements for different thicknesses of thin films.

Résumé

Nous analysons dans cet article, les fonctions diélectriques des couches minces photovoltaïques CuInSe2, 2 1 i e + e = e . A cet effet, nous avons obtenu les spectres de dispersion correspondant à ( ) ? e1 et ( ) ? e2 à partir des mesures spectrophotométriques pour différentes épaisseurs de couches minces.

Keywords

CuInSe2 films - Dielectric properties - Critical points - Band structure - Spectroscopic ellipsometry.

1300. Dielectric properties of flash - evapored CuInSe2 photovoltaic thin films
Texte intégral

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